TOPCON近红外分光辐射亮度计SR-NIR
分类: topcon拓普康  发布时间: 2016-05-17 13:53 

TOPCON近红外分光辐射亮度计SR-NIR
TOPCON近红外分光辐射亮度计SR-NIR在显示器及照明市场上,对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前,行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上,开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用,能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度

TOPCON近红外分光辐射亮度计SR-NIR产品特点

  • 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
  • 高精度测定近红外领域(600~1030nm)的分光分布。
  • 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时,能够测定可见光~近红外光(380~1030nm)的分光
      分布。

 

主要用途

  • 观察各类FPD的近红外领域的输出
  • 观察Ne、Ar的光谱线输出。
  • 光学膜等的近红外透过特性评价。
  • 其他光源的近红外分光测量。
  • TOPCON近红外分光辐射亮度计SR-NIR技术规格

    光亮采集 电子冷却型线性阵列传感器
    波长分散原理 衍射光栅
    测定角 2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
    最小测定直径(mmφ) 2° : 10.0,    1° : 4.99,    0.2° : 1.00,    0.1° : 0.50 (mmφ)
    测定距离 350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
    测定波长范围 600 - 1030nm
    光谱波宽 6 - 8nm (半波宽)
    波长分解能力 1nm
    测定模式 自动/手动 (积分时间/频率)、外部垂直同步信号输入
    测定内容 分光辐射亮度 : W・sr-1・m-2・nm-1
    测定范围(*1) 2.0° : 0.5 - 3,000,  1.0° : 1 - 9,000
    0.2° : 20 - 70,000,  0.1° : 100 - 300,000
    重复精度(*2) ±2% 以下
    偏光特性 分光辐射亮度 5% 以下
    校正基准 本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
    测定时间(*3) 约 1 - 31 秒
    界面 RS-232C, USB 2.0
    电源 专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
    功率 约34W
    使用条件 温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
    外形尺寸(W×D×H) 150×406×239mm
    质量 5.5kg


    (*1) : 本产品不测定亮度。记录针对标准A光源的参考值
    (*2) : 600~1030nm 针对本公司基准光源
    (*3) : E和PC的通信时间除外
     

    测定直径 (mm φ)

    mmφ
    测定角 测定距离 (*1)
    350mm 500mm 800mm 1000mm 2000mm
    10.0 15.1 25.4 32.2 66.4
    4.99 7.55 12.7 16.1 33.2
    0.2° 1.00 1.51 2.54 3.22 6.64
    0.1° 0.50 0.76 1.27 1.61 3.32


    (*1) 从物镜金属件前端开始的距离
     

    选配件

    • 辅助镜
    : AL-6
    • 辅助镜
    : AL-11
    • 辅助镜
    : AL-12
    • CCD接口
    : IA-2
    • 导光束
    : FP-3P
    • 三脚架5N
    : Tripod5N
    • 三脚架
    : Tripod-SR
    • 微动台
    : S-4

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